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lh系列台式高温老化试验箱

  • 作者

    隆安

  • 发布时间

    2026-01-12 10:13:11

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    323

先说结论:LH系列台式高温老化试验箱是电子元器件、材料研发及品质检测领域的高效解决方案,通过精准控温、快速升温、紧凑设计三大核心优势,满足小批量样品的高温加速老化测试需求。其温度均...

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LH系列台式高温老化试验箱是电子元器件、材料研发及品质检测领域的高效解决方案,通过精准控温、快速升温、紧凑设计三大核心优势,满足小批量样品的高温加速老化测试需求。其温度均匀性≤±2℃,升温速率达5℃/min,体积较传统设备缩小40%,尤其适合实验室、生产线及研发场景,可显著提升测试效率与数据可靠性。

一、为什么需要LH系列台式高温老化试验箱?

电子元器件、塑料材料、金属涂层等产品在长期使用中,需承受高温环境带来的性能衰减风险。传统老化测试依赖大型设备,存在占地面积大、升温慢、能耗高等痛点。LH系列台式高温老化试验箱专为解决这些问题设计:

  • 小批量测试需求:实验室研发阶段或生产线抽检时,无需启动大型设备,单次可测试10-50个样品,降低资源浪费;
  • 快速验证需求:产品迭代周期缩短,需在48小时内完成高温老化测试,传统设备需72小时以上;
  • 空间限制场景:中小型实验室或生产线边角区域,无法容纳传统1.5m³以上设备,LH系列体积仅0.3m³,可灵活部署。

数据显示,使用LH系列后,测试周期平均缩短35%,能耗降低28%,成为电子制造、汽车零部件、新能源材料等行业的首选工具。

二、LH系列台式高温老化试验箱的核心技术解析

  1. 精准控温系统
    采用PID智能温控算法,结合进口PT100铂金电阻传感器,实现温度波动≤±0.5℃,均匀性≤±2℃。例如,在150℃持续测试中,箱内各点温差不超过3℃,确保所有样品处于相同老化环境。

  2. 高效加热模块
    内置陶瓷纤维加热管,配合强制风循环系统,升温速率达5℃/min(传统设备仅2-3℃/min)。从室温升至200℃仅需30分钟,满足快速验证需求。

  3. 紧凑结构设计
    箱体采用双层隔热结构,外层为冷轧钢板喷塑,内层为不锈钢,中间填充100mm厚玻璃棉。在保证保温性能的同时,将体积控制在600×800×600mm,重量仅120kg,可放置于工作台或移动推车上。

  4. 安全防护机制
    配置超温报警、漏电保护、门锁联锁功能。当温度超过设定值3℃时,自动切断加热电源;开门时强制停止加热,避免人员烫伤。

三、LH系列台式高温老化试验箱的典型应用场景

  • 电子元器件测试:对IC芯片、电容、电阻进行125℃/168小时高温存储测试,验证封装材料与引脚的可靠性;
  • 塑料材料老化:模拟汽车内饰件在85℃/500小时后的色变、脆化情况,优化配方;
  • 电池性能检测:在60℃环境下测试锂电池的循环充放电效率,筛选出高温下容量衰减≤10%的优质电池;
  • 涂料附着力验证:将涂覆样板置于70℃烘箱中72小时,检测涂层是否起泡、脱落。

某新能源企业反馈,使用LH系列后,电池高温测试通过率从82%提升至91%,年节约返工成本超50万元。

四、如何选择适合的LH系列型号?

LH系列提供3种标准型号,用户可根据需求匹配:

  • LH-300:工作室尺寸300×400×300mm,适合测试小型元件(如SMT贴片);
  • LH-500:工作室尺寸500×500×400mm,可容纳电路板、手机中框等中型样品;
  • LH-800:工作室尺寸800×600×500mm,支持汽车仪表盘、显示器外壳等大型件测试。

所有型号均支持-20℃~300℃宽温域调节,可选配数据记录仪、湿度控制模块(需额外定制)。

LH系列台式高温老化试验箱常见问题解答(FAQ)

Q1:LH系列能否测试带电样品?
A:可测试,但需确保样品绝缘性能良好,避免漏电引发安全隐患。建议使用绝缘支架固定样品。

Q2:最高温度300℃是否足够?
A:覆盖90%的工业测试需求,如需更高温度(如400℃),可定制高温型设备,但成本增加40%。

Q3:升温速度能否更快?
A:5℃/min已是同类产品顶尖水平,过快升温可能导致温度过冲,影响测试精度。

Q4:如何清洁箱体内部?
A:使用中性清洁剂擦拭内壁,避免使用强酸强碱溶液,防止腐蚀不锈钢内胆。

Q5:设备保修期多久?
A:整机保修1年,加热管、传感器等易损件保修6个月,提供终身维护服务。

Q6:能否连接电脑记录数据?
A:标准型号需手动记录温度曲线,选配数据记录仪后可实现USB导出或无线传输。

Q7:LH系列与大型老化房的区别?
A:LH系列侧重小批量、快速测试,大型老化房适合量产线连续测试,两者互补而非替代。

从实验室研发到生产线抽检,LH系列台式高温老化试验箱以精准控温、快速响应、紧凑设计的综合优势,成为高温老化测试领域的高效工具。其覆盖-20℃~300℃的宽温域、≤±2℃的均匀性、5℃/min的升温速率,以及0.3m³的紧凑体积,精准解决了小批量、高频率测试场景的痛点。无论是电子元器件的可靠性验证,还是材料的高温性能筛选,LH系列都能提供可靠的数据支持,助力企业缩短研发周期、降低质量风险。

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