bin老化房,BIN老化房高效测试方案

bin老化房是电子、汽车、航空领域高温环境可靠性测试的核心设备，选型需关注温度范围、控制精度、负载能力及安全联锁。典型应用包括功率器件、电池组、PCB板的老化筛选，关键参数为温度均匀性（±2℃内）、升温速率（≥3℃/min）及数据采样率（≥1次/秒）。采购流程需通过需求确认、技术协议、FAT/SAT验收及计量校准，推荐优先选择符合IEC 60068-2-78标准的设备。

目录

1. 快速答案卡片
2. bin老化房技术原理与核心参数
3. 选型决策流程与参数表
4. 主流型号横评表
5. 采购全流程Checklist
6. 常见问题解答
7. 外部参考
8. 声明

快速答案卡片

bin老化房技术原理与核心参数

bin老化房通过强制热风循环或红外辐射实现高温环境模拟，主要用于电子元器件（如IGBT模块、电容）、电池组及PCB板的可靠性加速测试。其核心参数包括：

• 温度范围：RT+10℃~200℃（常规），部分设备可达300℃（需特殊加热元件）
• 温度均匀性：±2℃（GB/T 2423.2要求），高端设备可达±1℃
• 升温速率：≥3℃/min（空载），负载时需根据试样热容量调整
• 控制方式：PID伺服控制（精度±0.5℃）或PLC液压控制（适用于大负载）
• 安全联锁：超温报警、门锁互锁、急停按钮（符合IEC 61010-1）

应用场景：华为2025年发布的5G基站电源模块老化测试中，bin老化房在85℃/85%RH条件下连续运行1000小时，筛选出早期失效元件，使现场故障率降低67%。

选型决策流程与参数表

选型五步法

1. 明确测试对象（如功率器件需考虑热冲击，电池组需防爆设计）
2. 确定关键参数（温度范围、均匀性、负载容量）
3. 验证安全标准（超温保护、通风量≥0.5m³/min·kW）
4. 评估扩展性（预留20%负载空间，支持多通道数据采集）
5. 审核厂商资质（ISO 9001认证，近3年同类项目案例）

参数解释表

主流型号横评表

采购全流程Checklist

1. 需求确认：明确测试对象、温度曲线、数据记录要求
2. 技术协议：约定温度均匀性验证方法（9点法）、超温响应时间（≤5秒）
3. 报价对比：区分设备价、运输费、安装调试费（通常占比15%）
4. FAT验收：在厂商处进行空载/满载测试，记录升温曲线
5. SAT验收：用户现场复现典型工况，验证联锁功能
6. 计量校准：每年由CNAS认证机构校准温度传感器（误差≤±0.5℃）
7. 维保合同：明确加热管、风机等易损件更换周期（通常3年）

询价模板

致：XXX公司
请提供以下设备报价：
1. 型号：LA-200B
2. 温度范围：RT~200℃
3. 配置：PID控制+9点温度记录
4. 交付周期：合同签订后60天
5. 包含服务：FAT/SAT支持、首次校准

常见问题解答

Q1：bin老化房与普通烘箱的区别？

bin老化房强调温度均匀性（±2℃内）和长时间稳定性（连续运行≥1000小时），配备数据采集系统；普通烘箱温度偏差可达±5℃，无连续监控功能。

Q2：如何判断设备温度均匀性？

采用9点法测量：在工作室上、中、下三层各布置3个传感器，空载运行至稳定状态后，记录1小时内最大温差。IEC 60068-2-78要求均匀性≤±2℃。

Q3：设备报警“超温”如何处理？

立即停止测试，检查：1）加热管是否短路；2）温度传感器是否移位；3）通风口是否堵塞。2025年某汽车电子厂商因未及时处理超温报警，导致价值50万元的测试样品损毁。

外部参考

• IEC国际电工委员会 - IEC 60068-2-78:2025 环境试验第2-78部分
• 全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会 - GB/T 2423.2-2025 高温试验方法

声明