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电源小型分层老化柜(小型分层 高效老化 )

  • 作者

    隆安

  • 发布时间

    2025-12-25 13:38:39

  • 浏览量

    443

内容摘要:电源小型分层老化柜是电子电源产品高温老化测试的核心设备,选型需重点关注温度均匀性、负载容量、控制精度及安全联锁功能。建议优先选择符合IEC 60068-2-78标准、具备...

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电源小型分层老化柜是电子电源产品高温老化测试的核心设备,选型需重点关注温度均匀性、负载容量、控制精度及安全联锁功能。建议优先选择符合IEC 60068-2-78标准、具备独立温区控制及过载保护的产品,采购流程需严格履行技术协议确认、FAT/SAT测试及计量校准环节,避免因参数虚标或设计缺陷导致测试失效。

目录

  1. 一、核心结论与设备定位
  2. 二、快速答案卡片
  3. 三、选型决策流程与技术参数
  4. 四、典型故障与维护方案
  5. 五、主流型号横评表
  6. 六、采购全流程Checklist
  7. 七、常见问题解答
  8. 八、声明与外部参考

一、核心结论与设备定位

电源小型分层老化柜主要用于电子电源产品(如适配器、充电器、LED驱动电源)的高温加速老化测试,通过模拟70-150℃环境验证产品在长期高温下的电气性能衰减及可靠性。选型时需优先满足温度均匀性≤±2℃、负载容量匹配产品最大输出功率、控制精度0.1级等核心参数,同时需确认设备是否具备独立温区控制、过载保护及紧急停机功能。

二、快速答案卡片

问题答案
核心选型参数温度范围、负载容量、控制精度、安全联锁
推荐标准IEC 60068-2-78(高温试验)、GB/T 2423.2
典型故障温度超调、传感器漂移、接触器粘连
维护周期每3个月校准温度传感器,每6个月更换接触器
价格区间5-20万元(依容积与精度分级)

三、选型决策流程与技术参数

1. 关键参数解析表

参数定义典型值失效影响
温度均匀性工作区内最大温差≤±2℃导致局部过热,测试数据失真
负载容量最大可接入电源功率100W-5kW过载引发接触器烧毁
控制精度温度设定与实际值偏差0.1级(±0.1℃)影响老化时间计算
安全联锁超温/过流保护机制双回路冗余防止设备自燃

2. 选型决策流程

  1. 明确测试需求:试样尺寸(如19英寸机架式/桌面式)、负载类型(恒流/恒压)、测试时长(48-1008小时)
  2. 技术协议确认:要求厂商提供温度校准报告(如FLUKE 1586A测试数据)、负载曲线图
  3. FAT测试要点:空载升温速率(≥3℃/min)、满载温度稳定性(2小时内波动≤1℃)
  4. 验收标准:连续72小时无故障运行,温度均匀性通过9点法验证

3. 询价模板示例

致:XX厂商
需采购电源小型分层老化柜1台,参数要求如下:
1. 温度范围:室温+10℃至150℃
2. 负载容量:单层≥500W(共4层)
3. 控制方式:PLC+触摸屏,支持MODBUS协议
4. 安全功能:超温自动断电、门锁联锁
请于3个工作日内提供技术方案及报价。

四、典型故障与维护方案

1. 常见故障类型

故障现象原因解决方案
温度超调PID参数失调/加热管老化重新整定PID,更换加热元件
传感器漂移铂电阻氧化/接线松动校准或更换PT100传感器
接触器粘连负载电流超限/触点烧蚀更换接触器并限流

2. 维护清单

  • 每日:检查通风口无堵塞,记录初始温度
  • 每月:清洁加热管表面灰尘,检查接线端子紧固度
  • 每年:委托第三方机构进行温度场均匀性复测(依据JJF 1101-2019)

五、主流型号横评表

型号温度范围湿度范围控制精度附加特性价格(万元)
A厂-HT-500RT+10~150℃10%~95%RH±1℃独立4温区8.5
B厂-EL-3000RT~180℃不支持±0.5℃过载报警12
C厂-PX-200RT+5~120℃20%~80%RH±2℃数据追溯6.8

六、采购全流程Checklist

  1. 需求分析:明确试样数量、测试周期、预算范围
  2. 技术协议:约定温度波动度、负载匹配性、安全条款
  3. 报价对比:重点关注温控系统品牌(如欧陆590)、接触器型号(施耐德TeSys D)
  4. FAT测试:验证升温速率、温度均匀性、急停响应时间(≤2s)
  5. 安装验收:检查接地电阻≤4Ω,绝缘电阻≥2MΩ
  6. 计量校准:每年送检至省级计量院,获取CNAS认证报告
  7. 维保合同:明确备件供应周期(如加热管≤72小时)、响应时效

七、常见问题解答

Q1:如何判断设备温度均匀性是否达标?

依据GB/T 5170.2-2017,在空载状态下,将9支校准过的铂电阻传感器均匀布置于工作区(上中下三层各3点),连续记录1小时数据,计算最大温差。若超过±2℃需调整风道或加热元件布局。

Q2:分层设计对测试有何影响?

独立分层可避免试样间热辐射干扰,尤其适用于多型号并行测试。例如,测试A/B两款电源时,若共用同一温区,A产品的散热可能影响B产品的表面温度,导致老化速率计算偏差。

Q3:设备报价差异大的核心原因是什么?

主要取决于温控系统精度(如进口欧陆控制器成本是国产的3倍)、负载接触器品牌(施耐德比正泰贵40%)、安全联锁设计复杂度(双回路冗余比单回路成本增加25%)。

八、声明与外部参考

提示 因老化试验设备参数各异,为确保高效匹配需求,请您向我说明测试要求,我们将为您1对1定制技术方案
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