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隆安
2025-12-19 08:43:47
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老化房、试验箱、老化箱/柜 > 生产厂家
隆安老化设备25生产厂家直销价格,品质售后双保障,厂家直供价更优! 马上咨询
工业高温试验箱是电子、汽车、航空等领域高温老化测试的核心设备。选型需关注温度范围、均匀性、负载能力等核心参数,优先选择符合IEC 60068、GB/T 2423等标准的设备。采购流程应包括需求确认、技术协议、FAT/SAT验收等环节,避免低价陷阱与虚假参数。日常维护需定期校准温度传感器、清洁风道,故障排查需依据设备日志与标准流程。
| 核心问题 | 答案 |
|---|---|
| 选型关键参数 | 温度范围、均匀性±2℃、负载密度≤50W/dm³ |
| 主流标准 | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2、MIL-STD-810G |
| 价格区间 | 小型箱(50L)8万–15万,大型箱(1m³)30万–80万 |
| 维护周期 | 每季度清洁风道,每年校准传感器 |
| 参数 | 定义 | 典型值 | 失效边界 |
|---|---|---|---|
| 温度范围 | 工作下限至上限(如-70℃→+300℃) | RT+10℃→+200℃ | 超出范围导致加热管过热保护 |
| 均匀性 | 工作室内各点温差 | ±2℃(空载) | >±5℃时试样受热不均 |
| 升温速率 | 室温至最高温时间 | 5℃/min(非线性) | >10℃/min可能引发热应力 |
| 负载能力 | 单位体积发热量 | ≤50W/dm³ | >80W/dm³需强制风冷 |
| 控制方式 | PID/模糊控制 | 伺服电机控温 | 液压控制响应慢(>30s) |
| 类型 | 温度范围 | 典型应用 | 行业案例 |
|---|---|---|---|
| 小型精密箱 | RT+10℃→+180℃ | 半导体芯片老化 | 华为海思5G芯片测试 |
| 中大型通用箱 | RT+10℃→+300℃ | 汽车电子控制器(ECU) | 比亚迪IGBT模块测试 |
| 步入式试验室 | -70℃→+150℃ | 整车高温耐久 | 特斯拉Model 3电池包测试 |
| 品牌 | 温度范围 | 均匀性 | 控制精度 | 符合标准 | 附加特性 | 价格(万元) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC(日本) | RT→+300℃ | ±1.5℃ | ±0.5℃ | IEC/MIL | 远程监控 | 45–80 |
| CSZ(美国) | -70℃→+200℃ | ±2℃ | ±1℃ | ASTM | 数据追溯 | 60–120 |
| 重庆四达(国产) | RT→+150℃ | ±3℃ | ±1.5℃ | GB/T | 中文界面 | 12–30 |
| 阶段 | 关键动作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求确认 | 填写《试验需求表》(试样尺寸/功率/测试周期) | 需求文档V1.0 |
| 技术协议 | 明确温度均匀性、升温速率、安全联锁条款 | 技术协议书 |
| FAT验收 | 在厂商工厂进行空载/满载测试,记录数据 | FAT报告 |
| SAT验收 | 在用户现场复现测试条件,验证重复性 | SAT证书 |
| 计量校准 | 每年委托第三方机构校准温度传感器 | 校准证书 |
在空载状态下,将9个温度传感器布置于工作室上、中、下三层(每层3点),运行至稳态后记录数据,最大温差应≤标称值(如±2℃)。参考GB/T 5170.2–2017《电工电子产品环境试验设备检验方法》。
步骤:1. 检查通风口是否堵塞;2. 确认试样负载是否超过额定值(如50W/dm³);3. 查看加热管接触器是否粘连。若问题持续,需更换固态继电器(SSR)。
当试样体积>0.5m³或需多人同时操作时选择步入式;若测试PCB板、连接器等小件,优先选小型箱以降低能耗(步入式功率通常>50kW)。
因老化试验设备参数各异,为确保高效匹配需求,请您向我说明测试要求,我们将为您1对1定制技术方案
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