

隆安
2025-12-17 14:04:20
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老化房、试验箱、老化箱/柜 > 生产厂家
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| 核心参数 | 推荐范围 |
|---|---|
| 温度范围 | -70℃~+300℃(电子元器件推荐) |
| 控制精度 | ±0.5℃(IEC 60068-2-1标准) |
| 容积选项 | 100L~2000L(按试样尺寸选择) |
| 安全联锁 | 超温保护、门锁互锁(必备) |
| 校准周期 | 每12个月(CNAS认证实验室) |
高温老化试验箱通过模拟极端温度环境,验证产品在长期热应力下的失效模式。其技术核心包括温度均匀性控制、加热系统效率及安全联锁机制。根据中国电器科学研究院2025年报告,85%的测试失效源于设备控制精度不足或安全设计缺陷。
| 步骤 | 操作 | 验证方法 |
|---|---|---|
| 1 | 明确试样尺寸与负载量 | 计算容积=试样体积×1.5倍 |
| 2 | 确定温度波动要求 | 查阅产品标准(如AEC-Q100) |
| 3 | 验证安全功能 | 要求提供超温报警测试视频 |
| 4 | 对比校准记录 | 索要近12个月CNAS校准证书 |
案例:某半导体厂商采用谢岗试验箱进行IGBT模块高温反偏(HTRB)测试,要求温度波动≤±1℃,升温速率5℃/min。设备需配备独立风道设计,避免试样间热干扰。
应用:电池包热失控测试(GB 38031-2025),需-40℃~+85℃宽温域控制,同时集成气体浓度监测系统。安全联锁需包含防爆门设计及紧急排风装置。
场景:复合材料热老化(ASTM D3045),要求300℃高温下保持±2℃均匀性,箱体需采用316L不锈钢内胆以防止氧化污染。
| 型号 | 温度范围 | 湿度范围 | 控制精度 | 标准 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| XG-HT100 | -70~+150℃ | 10%~98%RH | ±1℃ | IEC 60068 | USB数据导出 |
| XG-HT500 | RT~+300℃ | 无 | ±0.5℃ | GB/T 2423 | 独立风道 |
| XG-HT2000 | -40~+180℃ | 20%~80%RH | ±1.5℃ | MIL-STD-810 | 防爆设计 |
| 阶段 | 关键动作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求确认 | 明确测试标准(如AEC-Q200) | 技术规格书 |
| 技术协议 | 约定验收标准及违约条款 | 双方签字协议 |
| FAT/SAT | 工厂验收测试(温度均匀性测试) | FAT报告 |
| 安装调试 | 验证接地电阻≤0.1Ω | 安装记录表 |
| 计量校准 | 委托CNAS实验室出具证书 | 校准证书 |
A:按IEC 60068-3-5标准,在空载状态下布置9个测温点,运行至稳定状态后记录1小时数据,计算最大温差。优质设备应≤±2℃(150℃以下)或≤±3℃(150~300℃)。
A:常规维护包括加热管更换(约2000元/次)、循环风机保养(500元/次)及校准费用(1500~3000元)。建议预留设备价格5%~8%作为年度维保预算。
A:若测试标准为MIL-STD或ESA,优先选择进口品牌(如德国Binder);若执行GB/T或IEC标准,国产谢岗试验箱在性价比上更具优势,但需严格核查校准记录。
中国电器科学研究院《环境试验设备白皮书(2025)》、SAE International《航空航天材料测试标准》、TÜV SÜD《高温试验箱型式试验指南》
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