深圳数码产品老化柜厂家(深圳专业数码老化柜制造 )

深圳数码产品老化柜选型需聚焦温度均匀性、控制精度及安全联锁设计，优先选择符合GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2标准的厂商。采购时应通过FAT/SAT验证设备性能，定期校准温度传感器，避免因参数虚标或维护不当导致测试失效。推荐通过第三方计量机构验证设备可靠性。

目录

1. 快速答案卡片
2. 选型决策流程
3. 核心参数与技术标准
4. 主流厂商横评表
5. 常见故障与维护
6. 采购全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部参考
9. 声明

快速答案卡片

选型决策流程

1. 需求确认：明确测试产品尺寸（如PCB板、整机）、负载功率（典型值：50-5000W）、测试时长（24-1000小时）。
2. 参数匹配：
   • 温度范围：-70℃~+180℃（常规数码产品选-20℃~+150℃）
   • 均匀性：±2℃（高精度需求选±1℃）
   • 控制方式：PID+SSR固态继电器（优于机械式温控）
3. 安全验证：检查超温保护（双回路独立传感器）、漏电保护（≤30mA）、门锁联锁（开门自动断电）。
4. 厂商筛选：优先选择通过ISO 9001认证、提供FAT（工厂验收）/SAT（现场验收）报告的厂商。

询价模板

致：XXX老化柜厂家
需求：
1. 测试产品：手机主板（尺寸：150mm×80mm×10mm）
2. 温度范围：-10℃~+85℃
3. 均匀性要求：±3℃
4. 负载功率：单板200W，总负载2000W
5. 需提供GB/T 2423.2测试报告
请提供技术方案、报价及交货周期。

核心参数与技术标准

关键参数表

适用标准与边界

• GB/T 2423.2-2008：高温试验方法，适用于电子元器件、整机（温度偏差≤±2℃）。
• IEC 60068-2-2：国际电工委员会标准，强调安全联锁设计（如门锁失效时自动断电）。
• EIA-364-17：电子连接器高温寿命测试，要求连续1000小时无故障。

主流厂商横评表

常见故障与维护

典型故障清单

年度维护计划

1. 每季度：清洁风道、检查门封条密封性。
2. 每半年：校准温度传感器（使用标准温度计对比）。
3. 每年：更换SSR继电器、检查接地电阻（≤4Ω）。

采购全流程Checklist

1. 需求确认：明确测试产品类型、温度范围、负载功率。
2. 技术协议：约定温度均匀性、安全联锁、校准周期。
3. 报价对比：要求提供分项报价（设备、运输、安装）。
4. FAT验收：在厂商工厂验证温度均匀性、超温保护功能。
5. SAT验收：在用户现场模拟实际负载测试。
6. 计量认证：委托第三方机构（如CNAS实验室）出具校准证书。
7. 维保合同：明确保修期（通常1年）、响应时间（≤48小时）。

FAQ

Q1：如何判断老化柜温度均匀性是否达标？

在空载状态下，将9个温度传感器均匀布置于工作室内（上中下三层各3个），运行至稳定状态后记录数据，最大温差应≤标称值（如±2℃）。

Q2：小型老化柜能否测试整机产品？

需确认工作室内尺寸是否满足产品摆放要求（如手机整机需≥400mm×500mm×600mm），同时负载功率不得超过设备额定值的80%。

Q3：为什么老化测试后产品仍出现故障？

可能原因：温度循环速率过快（超过3℃/min）、负载电流不稳定、测试时间不足（建议至少240小时）。

外部参考

• 中国电器科学研究院《环境试验设备校准规范》
• SGS通标标准《电子元器件高温老化测试指南》

声明