tws老化柜_TWS耳机高效老化测试

TWS老化柜是TWS耳机高温环境测试的核心设备，选型需关注温度范围（常温~150℃）、控制精度（±0.5℃）、负载容量及安全联锁功能。典型应用场景包括电池热失控测试、PCB高温老化及密封性验证。建议优先选择符合IEC 60068-2-14标准、具备独立风道设计的设备，采购流程需包含FAT/SAT验收及计量校准环节。

目录

1. 核心结论
2. 快速答案卡片
3. 选型决策流程
4. 技术参数与标准
5. 主流型号对比
6. 常见故障与维护
7. 采购全流程Checklist
8. FAQ
9. 外部参考
10. 声明

核心结论

TWS老化柜用于模拟耳机在高温环境下的长期工作状态，核心指标包括温度均匀性（≤2℃）、负载容量（单柜支持50~200只耳机）及安全联锁功能。选型时需结合测试需求（如电池安全测试需-40℃~150℃宽温区），优先选择通过CNAS认证的厂商，避免低价设备因温控波动导致测试数据失真。

快速答案卡片

选型决策流程

1. 需求确认：明确测试类型（电池/PCB/密封性）、温度范围、负载数量
2. 参数匹配：对照表1筛选符合温度精度、容积的设备
3. 厂商评估：核查CNAS认证、同类客户案例（如华为、小米供应链）
4. 询价模板：要求提供技术协议、FAT/SAT条款、维保政策
5. 验收清单：包含温度均匀性测试、安全联锁功能验证

表1：TWS老化柜关键参数表

技术参数与标准

TWS老化柜的核心技术参数需符合以下标准：

• IEC 60068-2-14：规定高温试验的温升速率（≤5℃/min）、稳定时间（≥2小时）
• GB/T 2423.2：要求温度均匀性≤2℃，负载误差≤5%
• ASTM D4169：针对运输环境模拟的振动+高温联合测试

典型工况：

• 电池热失控测试：85℃持续72小时，监测电压/温度曲线
• PCB高温老化：125℃持续168小时，检测开路/短路率
• 密封性验证：60℃+85%RH湿度，观察外壳变形

主流型号对比

常见故障与维护

表2：故障现象与解决方案

维护周期：

• 每日：检查温度/湿度记录
• 每月：清理风道、校准传感器
• 每年：更换加热管、检查安全联锁

采购全流程Checklist

1. 需求确认：输出技术规格书（含温度范围、负载数量）
2. 技术协议：明确验收标准（如温度均匀性≤2℃）、违约责任
3. 报价对比：要求分项报价（设备/运输/安装/培训）
4. FAT验收：在厂商工厂进行空载/负载测试，记录数据
5. SAT验收：在用户现场复现测试工况，确认符合需求
6. 计量校准：委托第三方机构（如CNAS实验室）出具校准证书
7. 维保合同：约定响应时间（如48小时内到场）、备件库存

FAQ

Q1：TWS老化柜价格范围是多少？

A1：基础型号（常温~120℃）约5万~8万元，宽温区（-40℃~150℃）型号约12万~20万元，含振动功能的复合测试设备可达30万元以上。

Q2：如何验证设备温度均匀性？

A2：在空载状态下，将9个温度传感器均匀布置于工作室内，运行至稳定状态后记录数据，最大差值应≤2℃（依据GB/T 2423.2）。

Q3：低价设备可能存在哪些风险？

A3：温控波动大（＞1℃）导致测试数据不可靠；安全联锁缺失可能引发火灾；缺乏FAT/SAT验收导致后期整改成本高。

Q4：进口品牌与国产设备的差异？

A4：进口品牌（如ESPEC、CSZ）温控精度更高（±0.3℃），但价格贵30%~50%；国产设备（如环仪、瑞凯）性价比高，服务响应更快。

Q5：是否需要配置数据采集系统？

A5：建议配置，可实时记录温度/电压曲线，符合IEC 60068-2-14对数据追溯的要求，国产系统成本约1万~2万元。

外部参考

• 中国电器科学研究院《环境试验设备校准规范》
• IEEE标准协会《电子设备高温测试指南》

声明