EX2223-TE高低温试验箱-精准控温 高低温随心测

EX2223-TE高低温试验箱是电子、汽车、航空航天领域高温老化测试的核心设备，选型需重点关注温度范围（-70℃~+180℃）、负载能力（≥50kg）、控制精度（±0.5℃）及安全联锁功能。采购需遵循技术协议确认、FAT/SAT验收、计量校准等流程，避免因参数虚标或维护缺失导致测试失效。

目录

1. 设备核心价值与选型逻辑
2. 快速答案卡片
3. 技术参数与选型决策流程
4. 典型应用场景与失效模式
5. EX2223-TE与竞品对比
6. 采购全流程Checklist
7. 常见问题解答
8. 外部参考
9. 声明

设备核心价值与选型逻辑

EX2223-TE高低温试验箱通过模拟极端温度环境（如-70℃~+180℃），验证电子元器件、汽车部件、航空航天材料的热稳定性与可靠性。其核心价值在于：

1. 加速老化测试：缩短产品寿命验证周期（如从自然环境1年缩短至实验室72小时）；
2. 失效机理分析：识别高温下材料变形、焊点熔断、密封失效等风险；
3. 合规性验证：满足IEC 60068、MIL-STD-810G等国际标准要求。

选型需平衡技术参数、预算与长期维护成本，避免因参数虚标或功能冗余导致资源浪费。

快速答案卡片

技术参数与选型决策流程

关键参数解析表

选型决策流程

1. 需求确认：明确测试温度范围、试样尺寸、循环次数；
2. 参数匹配：对比设备容积、负载、精度是否覆盖需求；
3. 标准验证：确认设备符合IEC/GB/MIL标准条款；
4. 厂商评估：考察案例真实性（如要求提供第三方检测报告）；
5. 成本优化：避免为冗余功能（如湿度控制）支付溢价。

询价模板

致：XXX厂商
需采购EX2223-TE高低温试验箱，请提供：
1. 温度范围、负载能力、控制精度参数；
2. 符合标准清单及检测报告；
3. 报价（含税、运输、安装）；
4. 维保政策（响应时间、备件库存）。

典型应用场景与失效模式

应用场景

1. 电子元器件：IC芯片高温偏置测试（TA=+125℃）；
2. 汽车部件：电池包热失控模拟（-40℃~+85℃循环）；
3. 航空航天材料：密封圈高温蠕变测试（+150℃/240h）。

失效模式与机理

EX2223-TE与竞品对比

选型建议：

• 预算有限且需求≤+150℃：选竞品A；
• 需严格控温（如军工级测试）：选竞品B；
• 性价比优先且需求覆盖+180℃：选EX2223-TE。

采购全流程Checklist

1. 需求确认：输出技术规格书（含温度、负载、标准）；
2. 技术协议：明确参数偏差允许范围（如±1℃视为不合格）；
3. 报价对比：要求厂商提供分项报价（设备、运输、安装）；
4. FAT/SAT验收：
   • FAT（工厂验收）：空载/负载升温测试、安全联锁触发测试；
   • SAT（现场验收）：模拟实际工况运行72小时。
5. 计量校准：每年委托第三方机构（如CNAS实验室）校准；
6. 维保合同：要求备件库存清单（如压缩机、加热管）及48小时响应承诺。

常见问题解答

Q1：设备报警“超温”如何处理？

立即暂停测试，检查：

1. 通风口是否堵塞；
2. 加热管是否老化（需更换）；
3. 温度传感器是否偏移（需校准）。

Q2：温度波动大（＞±1℃）的原因？

可能为：

1. 制冷剂泄漏（需检漏补加）；
2. 混风电机故障（更换轴承）；
3. 控制参数PID失调（重新整定）。

Q3：如何延长设备使用寿命？

1. 每月清洁冷凝器；
2. 每季度润滑门铰链；
3. 避免频繁启停（间隔≥15分钟）。

外部参考

• 中国电器科学研究院《高低温试验箱校准规范》（2025版）
• SAE International《航空航天材料高温测试标准》（AS6081）

声明