赛普斯老化房(精准模拟环境老化测试 )

导读

目录

1. 快速答案卡片
2. 赛普斯老化房技术解析
3. 选型决策流程与参数表
4. 采购全流程Checklist
5. 选型对比表
6. 常见故障与维护
7. FAQ
8. 外部参考

快速答案卡片

赛普斯老化房技术解析

试验目的与失效机理

赛普斯老化房通过模拟高温环境（如125℃、150℃），加速电子元器件、电池、塑料等材料的热老化过程，暴露潜在失效模式（如焊点虚焊、绝缘材料降解）。依据GB/T 《高温试验方法》，试验需控制升温速率（≤5℃/min）、恒温时间（通常24~168小时）及降温速率（自然冷却或强制风冷）。

关键参数与标准

• 负载容量：根据试样尺寸（如PCB板、电池包）选择容积，常见选项为1m³、3m³、5m³。
• 温度均匀性：≤±2℃（空载），需通过多点温度传感器验证（如9点法）。
• 安全联锁：超温保护、门锁互锁、排风联动，符合IEC 61010-1安全标准。
• 控制方式：PID伺服控制，采样率≥1次/秒，分辨率 ℃。

选型决策流程与参数表

选型步骤

1. 明确需求：试样类型（电子/机械）、温度范围、测试周期。
2. 参数匹配：参考下表选择基础型号。
3. 附加功能：是否需要湿度控制、数据记录、远程监控。
4. 预算校准：基础型（10~20万）vs 高端型（30~50万）。

参数解释表

采购全流程Checklist

1. 需求确认：填写《技术需求表》（含试样尺寸、温度曲线、安全要求）。
2. 技术协议：明确参数、交货期、验收标准（如温度均匀性测试方法）。
3. 报价对比：要求厂商提供分项报价（设备、运输、安装、培训）。
4. FAT验收：在厂商工厂测试空载/负载温升、安全联锁功能。
5. SAT验收：现场复现FAT测试，验证与实际工况匹配度。
6. 计量校准：委托第三方机构（如CNAS实验室）出具校准证书。
7. 维保合同：约定备件库存、响应时间（如48小时上门）。

选型对比表

常见故障与维护

• 故障1：温度超调
  • 原因：PID参数失调、加热管老化。
  • 解决：重新整定PID，更换加热管（需断电操作）。
• 故障2：传感器漂移
  • 原因：长期高温导致热电偶氧化。
  • 解决：每年校准传感器，备用件库存≥2套。
• 维护周期：
  • 每日：检查排风系统、门封条。
  • 每月：清洁加热室灰尘、验证温度均匀性。
  • 每年：全面校准、更换易损件（如风机轴承）。

FAQ

Q1：赛普斯老化房价格区间？
A：基础型（1m³，RT~+150℃）约10~15万；高端型（5m³，-70℃~+300℃）约30~50万，含湿度控制功能需加价5~10万。

Q2：如何验证温度均匀性？
A：按GB/T 方法，在空载状态下布置9个温度传感器（上中下三层），记录1小时数据，计算最大偏差。

Q3：选型时是否需考虑余量？
A：建议负载容量留20%余量（如测试10kW设备，选12kW机型），避免长期满载导致元件寿命缩短。

Q4：赛普斯老化房符合哪些国际标准？
A：主要符合IEC 60068-2-2（高温试验）、GB/T （中国标准）、MIL-STD-810G（军工级）。

Q5：采购后验收不合格如何处理？
A：依据技术协议条款，要求厂商72小时内整改；若涉及核心参数（如温度精度），可拒收并索赔。

外部参考

• 中国电器科学研究院：《环境试验设备校准规范》栏目
• IEC国际电工委员会：IEC 60068系列标准
• SAE国际：航空航天材料高温测试方法