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隆安
2025-12-01 13:56:55
811
老化房、试验箱、老化箱/柜 > 生产厂家
隆安老化设备25生产厂家直销价格，品质售后双保障，厂家直供价更优！ 马上咨询
✅导读：
上海半导体芯片高低温试验箱是半导体行业高温老化、环境适应性测试的核心设备，选型需重点关注温度范围、控制精度、负载能力及安全标准。用户需结合测试需求（如IC封装、功率器件）选择符合IEC/GB标准的设备，并通过技术协议、FAT/SAT验收等流程规避风险。
✅目录（含锚点）
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| 典型温度范围 | -70℃至+180℃（半导体老化常用） |
| 关键精度指标 | 温度波动度≤± ℃，均匀度≤±2℃ |
| 核心标准 | IEC 60068-2-1（高温）、GB/T |
| 选型优先级 | 负载容量＞控制精度＞附加功能 |
| 单台价格区间 | 8万-50万元（依配置浮动） |
试验目的：模拟芯片在高温环境下的长期工作状态，检测封装材料、焊点、金属化层的热疲劳、氧化失效及电参数漂移。
典型工况：
关键参数表
| 参数 | 说明 | 半导体行业要求 |
|---|---|---|
| 负载容量 | 试样架承重 | ≥50kg（适配多芯片板） |
| 控制方式 | 伺服PID控制 | 优于液压，响应速度＜ 秒 |
| 采样率 | 数据记录频率 | ≥1次/秒（捕捉瞬态温变） |
| 安全联锁 | 过温/断电保护 | 必须符合IEC 61010-1 |
步骤1：明确测试需求
步骤2：核心参数筛选
询价模板
| 阶段 | 动作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求 | 明确测试类型、试样量、预算 | 《测试需求表》 |
| 技术协议 | 约定温度精度、安全条款、维保周期 | 《技术协议书》 |
| 报价 | 对比3家以上供应商，核查配置清单 | 《报价单及配置表》 |
| FAT | 现场验收温度均匀性、联锁功能 | 《FAT测试报告》 |
| 安装 | 核查设备水平度、通风管道 | 《安装记录表》 |
| 计量 | 委托第三方校准温度传感器 | 《校准证书》 |
日常维护：
常见故障与解决
| 故障现象 | 可能原因 | 解决方案 |
|---|---|---|
| 升温缓慢 | 加热管老化 | 更换加热组件 |
| 温度超调 | PID参数失调 | 重新整定参数（需供应商支持） |
| 湿度异常 | 加湿罐缺水 | 检查供水系统及传感器 |
| 品牌 | 温度范围 | 控制精度 | 附加特性 | 价格区间 |
|---|---|---|---|---|
| 艾思特（上海） | -72℃至+180℃ | ± ℃ | 远程诊断系统 | 25万-40万 |
| 韦斯法利（德国） | -80℃至+200℃ | ± ℃ | 符合AEC-Q100 | 50万+ |
| 沪升仪器 | -65℃至+150℃ | ± ℃ | 基础款性价比 | 12万-18万 |
Q1：高低温试验箱能否直接用于HAST测试？
A：不能。HAST需增加高压蒸汽系统（通常130℃/85%RH/ ），需选购专用设备或升级模块。
Q2：设备校准周期是多久？
A：建议每12个月校准一次，关键行业（如汽车电子）可缩短至6个月。
Q3：如何验证温度均匀性？
A：按GB/T ，在空载和满载状态下，布置9个测温点，记录2小时数据，计算最大温差。
因老化试验设备参数各异，为确保高效匹配需求，请您向我说明测试要求，我们将为您1对1定制技术方案
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颜总
