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cb热冲击试验箱-耐热耐冷稳定测试设备

  • 作者

    隆安

  • 发布时间

    2025-11-26 13:45:33

  • 浏览量

    332

内容摘要:1. 导读PCB热冲击试验箱是电子元器件高温老化测试的核心设备,选型需重点关注温度范围、控制精度、负载能力及安全联锁设计。用户应优先选择符合IEC 60068-2-14、...

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1. 导读

PCB热冲击试验箱是电子元器件高温老化测试的核心设备,选型需重点关注温度范围、控制精度、负载能力及安全联锁设计。用户应优先选择符合IEC 60068-2-14、GJB 等标准的设备,并通过FAT/SAT验收、定期计量校准确保可靠性。

2. 目录

3. 快速答案卡片

问题 答案
典型温度范围 -70℃~+250℃(三箱式)
控制精度要求 ±1℃(IEC 60068-2-14)
选型核心参数 温度均匀性、负载容量、安全联锁
推荐标准 IEC 60068-2-14、GJB 、MIL-STD-810G
维护周期 每季度清洁冷凝器,每年校准传感器

4. 正文结构

试验箱技术原理与核心参数

试验目的与失效机理

PCB热冲击试验通过模拟极端温度循环(如-65℃→+150℃),检测材料因热胀冷缩产生的应力裂纹、焊点虚焊、层间分离等失效。典型应用场景包括:

  • 军工电子:导弹导引头PCB在-55℃~+125℃下的可靠性验证(GJB )
  • 汽车电子:IGBT模块在-40℃~+175℃下的功率循环测试(AEC-Q100)
  • 消费电子:手机主板在-20℃~+85℃下的寿命评估(IEC 60068-2-14)

关键参数解析

参数定义典型值行业标准
温度范围设备可达到的最低/最高温度-70℃~+250℃IEC 60068-2-14
温度均匀性工作室内各点温差≤2℃MIL-STD-810G
温度波动度设定值与实际值的偏差≤± ℃GJB
升温/降温速率每分钟温度变化量15℃/min(三箱式)ASTM D5430
负载容量单次可放置的PCB数量/尺寸10块(300mm×400mm)用户需求定制

选型决策流程与实操工具

参数解释表

参数 影响 选型建议
控制方式 伺服电机(精度高) vs 液压系统(负载大) 精密测试选伺服,大负载选液压
安全联锁 超温保护、门锁互锁、急停按钮 必须符合CE/UL认证
采样率 数据记录频率 ≥1次/秒(动态测试需求)

选型决策流程图

  1. 明确需求:温度范围、循环次数、试样尺寸
  2. 标准匹配:确认适用标准(如IEC 60068-2-14)
  3. 预算评估:国产设备(30-80万) vs 进口设备(100-300万)
  4. 厂商筛选:要求提供FAT/SAT报告及计量证书

询价模板

5. 选型横评表

厂商 温度范围 湿度范围 容积 控制精度 符合标准 附加特性 价格区间
隆安老化 -70℃~+250℃ 500L ± ℃ IEC/GJB 远程监控 45-65万
ESPEC -80℃~+300℃ 800L ± ℃ MIL-STD 数据追溯 120-180万
重庆四达 -60℃~+180℃ 300L ±1℃ IEC 应急制冷 28-40万

6. 采购与验收Checklist

采购阶段

  • [ ] 确认技术协议包含温度曲线、负载要求、安全条款
  • [ ] 要求厂商提供同类客户案例及计量证书

验收阶段(FAT/SAT)

  • [ ] 温度均匀性测试(9点法)
  • [ ] 安全联锁功能验证(超温/断电保护)
  • [ ] 负载能力测试(满载运行24小时)

维保阶段

  • [ ] 每季度清洁冷凝器及过滤网
  • [ ] 每年由第三方机构校准传感器

7. FAQ

Q1:两箱式与三箱式试验箱如何选择?
A:两箱式(移动式)升温快但负载小,适合小批量测试;三箱式(固定式)温度稳定,适合大负载或高精度需求。

Q2:设备报警“超温”如何处理?
A:立即停止测试,检查加热管、温控器及通风口是否堵塞,参考厂商提供的故障代码表(如E-01表示加热故障)。

Q3:国产设备与进口设备的差距在哪?
A:进口设备在温度均匀性(± ℃ vs ±1℃)、长期稳定性(MTBF>5000小时)上更优,但国产设备性价比高且维保响应快。

8. 外部参考

  • 中国计量院:环境试验设备校准规范
  • SAE国际:MIL-STD-810G军标解读
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