

隆安
2025-11-25 14:16:26
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联创中控RFID综合试验箱是针对高温老化环境测试设计的专业设备,适用于电子元器件、汽车电子、航空航天等领域的可靠性验证。其核心优势在于高精度温湿度控制、多参数协同测试能力及符合ISO/IEC等国际标准。工程师需重点关注负载能力、控制精度及安全联锁设计,避免因选型不当导致测试失效。
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| 典型温度范围 | -70℃~+300℃(依型号) |
| 控制精度 | ± ℃(温度),±2%RH(湿度) |
| 符合标准 | ISO 16750、IEC 60068、GB/T 2423 |
| 核心部件寿命 | 加热器≥10,000小时,传感器≥5年 |
| 采购周期 | 国内厂商4-6周,进口设备8-12周 |
联创中控RFID综合试验箱主要用于模拟高温老化环境,验证RFID标签、电子模块在极端温度下的读写稳定性、材料形变及电气性能衰减。典型应用场景包括:
| 参数 | 解释 | 典型值 |
|---|---|---|
| 负载能力 | 试验箱内可放置的最大试样质量或体积 | 50kg(依型号),试样尺寸≤800×600×500mm |
| 控制方式 | 伺服系统(PID闭环控制) vs 液压系统(大负载场景) | 伺服系统为主,响应时间≤2秒 |
| 分辨率 | 温度/湿度传感器的最小检测单位 | ℃(温度), %RH(湿度) |
| 安全联锁 | 超温保护、门锁互锁、漏电保护等 | 必须符合IEC 61010-1标准 |
| 阶段 | 关键动作 |
|---|---|
| 需求确认 | 输出技术协议,明确温度均匀性(≤2℃)、升温速率(3℃/min)等指标 |
| 报价对比 | 要求厂商提供分项报价(设备、运输、安装、培训) |
| FAT(工厂验收) | 验证空载/满载升温曲线、报警功能,记录24小时连续运行数据 |
| SAT(现场验收) | 模拟实际工况测试,检查试样数据与设备记录的一致性 |
| 计量校准 | 每年一次由第三方机构(如中国计量科学研究院)校准,保存校准证书 |
| 型号 | 温度范围 | 湿度范围 | 容积(L) | 控制精度 | 符合标准 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| LC-RFID-300 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 300 | ±1℃ | ISO 16750, IEC 60068 | 独立风道设计,减少交叉污染 |
| LC-RFID-800 | -40℃~+300℃ | 5%~95%RH | 800 | ± ℃ | GB/T 2423, ASTM D573 | 多级权限管理,支持远程监控 |
| LC-RFID-1200 | -20℃~+150℃ | 20%~80%RH | 1200 | ±2℃ | MIL-STD-810G | 防爆设计,适用于锂电池测试 |
Q1:如何判断设备是否符合汽车行业测试标准?
A:要求厂商提供ISO 16750-4认证文件,并确认设备能模拟“高温存储”(125℃/240h)和“温度循环”(-40℃~+85℃/20循环)等典型工况。
Q2:设备报价差异大的原因是什么?
A:核心差异在于控制精度(± ℃ vs ±2℃)、材质(不锈钢内胆 vs 镀锌板)及附加功能(如数据追溯系统)。
Q3:进口设备与国产设备的选型建议?
A:若测试标准严格(如航空航天),优先选择进口设备(如德国Weiss);若预算有限且测试需求常规,国产设备(如联创中控)性价比更高。
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