高低温试验箱拓达谱(拓达谱高低温精准测试 )

导读：

高低温试验箱拓达谱作为环境模拟测试核心设备，广泛应用于电子、汽车、军工等领域，其选型需严格匹配温度范围、控制精度及负载能力。用户需通过技术协议明确参数边界，结合FAT/SAT验收流程规避质量风险，避免因设备性能不足导致测试数据失效。

目录：

1. 快速答案卡片
2. 设备技术解析与选型逻辑
3. 选型对比表
4. 采购与验收Checklist
5. FAQ
6. 外部参考

快速答案卡片：

• 核心参数：温度范围（-70℃~+180℃）、精度± ℃、负载容量≥50kg（典型值）
• 关键标准：GB/T （高温）、GB/T （低温）
• 避坑要点：拒绝无安全联锁的低价设备，优先选择通过CNAS认证的厂商
• 维护周期：每3个月更换循环风机轴承，每6个月校准温度传感器

设备技术解析与选型逻辑

一、设备应用场景与失效机理

高低温试验箱拓达谱主要用于模拟极端温度环境，验证产品在高温老化（如电子元件焊点氧化）、低温脆化（如塑料部件收缩）下的可靠性。典型失效案例包括：

• 电子元件：高温下电解电容漏液，导致电路短路
• 金属材料：低温下发生冷脆断裂（如汽车弹簧钢）
• 密封件：温度循环导致橡胶O型圈压缩永久变形率超标

二、关键参数解析表

三、选型决策流程

1. 需求确认：明确测试对象（如PCB板需≤50kg负载）、温度循环次数（如1000次）
2. 标准匹配：军工产品需符合GJB ，汽车电子需符合ISO 16750-4
3. 厂商筛选：优先选择通过ISO 9001认证且具备CNAS实验室的厂商（如拓达谱母公司隆安仪器）
4. 技术协议：明确验收条款（如连续72小时运行无故障）

四、询价模板

选型对比表

采购与验收Checklist

1. 需求阶段：确认测试标准（如AEC-Q100 Grade 3要求-40℃~+125℃）
2. 技术协议：明确温度波动度≤± ℃（GB/T ）
3. FAT（工厂验收）：
   • 空载运行24小时，记录温度曲线
   • 负载50kg试样，验证升温速率
4. SAT（现场验收）：
   • 连接被测产品，完成3次温度循环
   • 检查安全联锁（如超温自动断电）
5. 计量校准：每年委托第三方机构（如中国计量院）出具校准证书

FAQ

Q1：设备报“超温故障”如何处理？
A：立即停机并检查：1）加热管是否短路；2）温度传感器是否偏移（用标准源校验）；3）通风口是否堵塞。拓达谱设备内置故障代码表，可参考手册第5章排查。

Q2：温度波动大是否属于质量问题？
A：根据GB/T ，工作区任意两点温差应≤2℃。若超过此值，需检查：1）循环风机转速；2）保温层厚度；3）传感器安装位置。拓达谱设备出厂前需通过48小时稳定性测试。

Q3：如何选择湿度控制功能？
A：若测试需模拟湿热环境（如GB/T ），需选择带湿度控制的型号（如拓达谱TD-70）。仅需干燥环境测试时，可省去此功能以降低成本。

外部参考

• 中国电器科学研究院：《环境试验设备校准规范》栏目
• SAE国际：AS6328《航空航天产品环境试验标准》