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隆安
2025-11-22 14:21:03
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老化房、试验箱、老化箱/柜 > 生产厂家
隆安老化设备25生产厂家直销价格,品质售后双保障,厂家直供价更优! 马上咨询
光衰试验箱是高温老化环境测试的核心设备,选型需重点关注温度均匀性、负载容量及安全联锁功能。建议优先选择符合IEC 60068-2-78标准、具备伺服控制系统的厂商,并通过FAT/SAT验收流程规避质量风险。
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| 推荐温度范围 | 80℃~150℃(LED行业典型值) |
| 核心标准 | IEC 60068-2-78、GB/T |
| 关键参数优先级 | 温度均匀性>负载容量>控制精度 |
| 采购避坑点 | 拒绝无FAT/SAT流程的供应商 |
光衰试验箱用于模拟LED、半导体器件在高温环境下的光通量衰减过程,验证材料耐热性与封装可靠性。典型应用场景包括:
失效机理:高温加速热应力导致材料膨胀系数失配,引发微裂纹扩展或界面分离。
| 参数 | 定义 | 典型值 | 行业要求 |
|---|---|---|---|
| 温度均匀性 | 工作区内各点温差 | ±2℃ | IEC 60068-2-78 |
| 负载容量 | 单层可放置样品数量 | 50~200pcs | 依试样尺寸而定 |
| 控制方式 | 伺服(PID)vs 液压 | 伺服占90% | 伺服响应更快 |
| 安全联锁 | 超温/过流保护 | 必须配置 | GB |
明确需求:
技术验证:
询价模板:
####
| 厂商 | 温度范围 | 湿度范围 | 容积选项 | 控制精度 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| 隆安老化 | RT~180℃ | 20%~98%RH | ³/ ³ | ± ℃ | 远程监控 |
| 韦尔测试 | RT~150℃ | 不支持 | ³ | ±1℃ | 数据追溯 |
| 赛宝实验室 | RT~200℃ | 30%~80%RH | ³ | ± ℃ | 振动叠加 |
| 故障现象 | 可能原因 | 解决方案 |
|---|---|---|
| 温度超调 | PID参数失调 | 重新自整定 |
| 加热管损坏 | 长期过载运行 | 更换并检查负载 |
| 传感器漂移 | 环境振动干扰 | 每年校准一次 |
因老化试验设备参数各异,为确保高效匹配需求,请您向我说明测试要求,我们将为您1对1定制技术方案
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