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上海教学设备传感器试验箱(上海传感器教学试验利器 )

  • 作者

    隆安

  • 发布时间

    2025-11-18 09:24:13

  • 浏览量

    413

内容摘要:导读目录快速答案卡片试验箱核心参数与技术要点选型决策流程与实操表采购全流程Checklist典型故障与维护方案选型对比表FAQ外部参考声明快速答案卡片 问题 答案...

老化房、试验箱、老化箱/柜 > 生产厂家

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导读

目录

  1. 快速答案卡片
  2. 试验箱核心参数与技术要点
  3. 选型决策流程与实操表
  4. 采购全流程Checklist
  5. 典型故障与维护方案
  6. 选型对比表
  7. FAQ
  8. 外部参考
  9. 声明

快速答案卡片

问题 答案
典型温度范围 -70℃~+300℃(常规型号)
控制精度要求 ± ℃(GB/T )
选型核心参数 温度均匀性、升温速率、安全联锁
推荐厂商筛选标准 需具备CMA/CNAS认证实验室
基础价格区间 8万~30万元(依配置浮动)

正文结构

1. 试验箱核心参数与技术要点

试验目的:模拟传感器在高温环境下的长期工作状态,验证其热稳定性、参数漂移及失效阈值,符合GB/T 《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》标准。

典型工况关键参数

  • 负载能力:单层载重≥5kg(适用于PCB板级传感器测试)
  • 试样尺寸:标准舱内尺寸600×800×1000mm(可定制)
  • 控制方式:PID伺服控制(优于液压控制,响应速度≤2秒)
  • 精度与分辨率:温度精度± ℃,分辨率 ℃
  • 安全联锁:超温报警、断电保护、门锁互锁(需符合IEC 61010-1)

失效机理:高温导致传感器材料热膨胀系数失配、焊点虚焊、封装材料氧化,需通过试验箱加速老化测试提前识别。

2. 选型决策流程与实操表

步骤1:明确测试需求

参数 选项 示例值
温度范围 常规/极端 -40℃~+150℃ / -70℃~+300℃
湿度控制 需/不需 20%~98%RH(可选配)
试样数量 单层/多层 4个/层 × 3层

步骤2:技术协议关键条款

  • 温度波动度:≤±1℃(空载)
  • 升温速率:3℃/min(可调)
  • 通讯接口:RS485/以太网(支持数据远程采集)

询价模板

3. 采购全流程Checklist

阶段 任务 交付物
需求确认 明确测试对象、温度曲线、数据采集频率 《技术需求说明书》
技术协议 约定精度、安全条款、交付周期 双方签字协议
FAT(工厂验收) 验证温度均匀性、联锁功能 《FAT测试报告》
SAT(现场验收) 模拟实际工况运行72小时 《SAT验收单》
计量校准 每年一次第三方计量(如上海市计量测试技术研究院) 《校准证书》

4. 典型故障与维护方案

故障现象 可能原因 解决方案
温度超调 PID参数失调 重新自整定PID值
湿度异常 加湿管堵塞 更换纯净水,清洗加湿系统
通讯中断 接口松动 检查RS485终端电阻配置

维护周期表

  • 每日:检查冷凝水排放
  • 每月:清洁进风口滤网
  • 每年:更换制冷系统干燥过滤器

选型对比表

厂商 温度范围 湿度范围 容积 控制精度 符合标准 附加特性 价格区间
上海XX仪器 -70℃~+300℃ 20%~98%RH ³ ± ℃ GB/T 远程监控 25万~30万
苏州YY科技 -40℃~+180℃ ³ ±1℃ IEC 60068-2-2 多段编程 12万~18万
深圳ZZ设备 -60℃~+200℃ 30%~85%RH ³ ± ℃ MIL-STD-810G 应急停机 18万~22万

FAQ

Q1:试验箱温度均匀性差如何解决?
A:检查风道循环系统是否堵塞,调整风机转速至1200r/min(标准值),并重新校准温度传感器布局。

Q2:高温试验后传感器参数漂移超标怎么办?
A:立即终止试验,检查传感器封装是否开裂,同时核查试验箱温度曲线是否符合GB/T 规定的梯度升温要求。

Q3:如何验证厂商提供的精度数据真实性?
A:要求厂商提供第三方计量报告(如中国计量科学研究院),并现场见证FAT测试中的温度均匀性验证(9点法)。

Q4:进口与国产设备如何选择?
A:若测试标准为国际规范(如MIL-STD),优先选进口设备;若仅需符合国标,国产设备性价比更高(如上海XX仪器通过CNAS认证)。

Q5:试验箱能否用于锂电池高温测试?
A:需确认设备是否具备防爆设计(如泄压口、气体排放装置),普通教学设备试验箱禁止用于易燃品测试。

外部参考

  • 全国工业产品生产许可证办公室:《环境试验设备生产许可审查细则》
  • 中国计量科学研究院:环境试验设备校准规范(JJF 1101-2019)

JSON-LD

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