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博奥恒温恒湿程式试验箱,精准控温控湿试验利器

  • 作者

    隆安

  • 发布时间

    2025-11-17 09:12:30

  • 浏览量

    1028

内容摘要:导读博奥恒温恒湿程式试验箱是高温老化、环境应力筛选(ESS)及可靠性测试的核心设备,其选型需重点关注温度/湿度范围、控制精度、负载容量及安全联锁设计。通过符合GB/T 2...

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导读

博奥恒温恒湿程式试验箱是高温老化、环境应力筛选(ESS)及可靠性测试的核心设备,其选型需重点关注温度/湿度范围、控制精度、负载容量及安全联锁设计。通过符合GB/T 2423、IEC 60068等标准的设备,可有效模拟产品在极端环境下的失效模式,降低研发与生产风险。

目录

  1. 快速答案卡片
  2. 设备技术解析与选型指南
  3. 选型对比表
  4. 采购与验收全流程Checklist
  5. FAQ
  6. 外部参考

快速答案卡片

问题 答案
典型温度范围 -70℃~+180℃(依型号)
湿度控制精度 ±2%RH(25℃~85℃工况)
核心标准 GB/T 、IEC 60068-2-1
选型关键参数 负载容量、试样尺寸、控制方式(伺服PID)
维护周期 每季度校准温湿度传感器,半年更换滤网

设备技术解析与选型指南

1. 试验目的与典型工况

博奥恒温恒湿程式试验箱主要用于:

  • 高温老化测试:模拟电子元器件、电池、LED在85℃~150℃下的长期工作稳定性。
  • 环境应力筛选(ESS):通过快速温变(如5℃/min)激发潜在缺陷。
  • 包装运输测试:依据ASTM D4332验证产品在湿热环境下的防护性能。

失效机理:高温导致材料热膨胀系数失配(如PCB与元器件焊点),湿度加速金属腐蚀(如IC引脚氧化)。

2. 关键参数与选型决策流程

参数解释表

参数 定义 典型值 选型优先级
温度范围 最低/最高可达温度 -70℃~+180℃ ★★★★★
湿度范围 相对湿度控制区间 10%~98%RH ★★★★
负载容量 最大可放置试样质量 50kg~500kg ★★★★
控制精度 温度/湿度波动值 ± ℃/±2%RH ★★★★
采样率 数据采集频率 1次/秒 ★★★

选型决策流程

  1. 明确测试需求:确定试样尺寸(如100mm×100mm PCB板)、测试温度(如125℃±2℃)。
  2. 匹配负载容量:试样总质量≤设备额定负载的80%。
  3. 验证控制方式:伺服PID控制优于传统开关控制,温变速率更稳定。
  4. 安全联锁设计:需具备超温保护、漏电断路器(RCD)。

3. 询价模板与验收清单

询价模板

验收与校准清单

项目 验收标准 工具
温度均匀性 ≤±2℃(空载) 多通道温度记录仪
湿度偏差 ≤±3%RH(50%RH工况) 精密湿度计
安全联锁 超温10℃自动断电 模拟故障测试

选型对比表

型号 温度范围 湿度范围 容积(L) 控制精度 符合标准 附加特性
BOAO-HTHH-100 -40℃~+150℃ 20%~98%RH 100 ±1℃/±3%RH GB/T 2423 远程监控
BOAO-HTHH-300 -70℃~+180℃ 10%~95%RH 300 ± ℃/±2%RH IEC 60068 数据追溯
竞品A-300 -60℃~+150℃ 15%~90%RH 300 ± ℃/±4%RH GB/T 2423

采购与验收全流程Checklist

  1. 需求确认:明确测试类型(如高温存储、温湿循环)、试样规格。
  2. 技术协议:约定温度波动度、恢复时间等关键指标。
  3. 报价对比:要求厂商提供分项报价(设备、运输、安装)。
  4. FAT/SAT测试
    • FAT(工厂验收):验证设备空载性能。
    • SAT(现场验收):模拟实际负载工况测试。
  5. 计量校准:委托第三方机构(如CNAS认证实验室)出具校准证书。
  6. 维保合同:明确响应时间(如48小时内到场)、备件库存。

FAQ

Q1:如何判断设备控制精度是否达标?
A:使用多通道温度记录仪(如Fluke 2638A)在空载和满载工况下连续监测24小时,温度波动度应≤± ℃(依型号)。

Q2:设备故障率高的常见原因?
A:1)滤网堵塞导致散热不良;2)传感器老化(建议每2年更换);3)电源波动(需配置稳压器)。

Q3:博奥设备与进口品牌(如ESPEC)的差异?
A:博奥在温度均匀性(±1℃ vs ± ℃)和本地化服务(48小时响应)上更具优势,价格低30%~50%。

Q4:高温老化测试是否需要湿度控制?
A:电子元器件测试通常仅需控温,但电池测试需同时控制湿度(如40℃±2℃/85%RH±5%RH)。

Q5:设备校准周期如何确定?
A:依据JJF 1101-2019,建议每12个月校准一次,高频使用(如每日运行)可缩短至6个月。

外部参考

  • 中国计量科学研究院《环境试验设备校准规范》栏目
  • IEEE《电子设备可靠性测试标准》白皮书
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