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隆安
2025-11-10 14:07:08
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老化房、试验箱、老化箱/柜 > 生产厂家
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恒温试验箱的“高度合格性”需结合试验目的、负载类型及标准要求综合判定，无单一数值标准。用户应优先关注容积适配性、温度均匀性、安全联锁等核心参数，避免仅以高度作为选型依据。
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| 恒温试验箱多高合格？ | 无固定高度标准，需根据试样尺寸、容积及标准要求（如IEC 60068）适配。 |
| 核心选型参数有哪些？ | 温度范围、容积、控制精度、均匀性、负载能力、安全联锁。 |
| 典型故障如何排查？ | 优先检查温度传感器、加热/制冷模块、通风系统及校准记录。 |
| 价格区间参考？ | 基础型（1-5万元），高精度型（10-30万元），定制型（50万元+）。 |
恒温试验箱的“高度合格性”本质是容积适配性问题，需结合试验目的、负载类型及行业标准综合判定。例如：
失效案例：某汽车电子厂商因选用高度不足的试验箱，导致多层电路板测试时局部温度超差15℃，引发产品早期失效。
根据试验目的选择高度参数：
| 试验类型 | 高度要求 | 典型标准 |
|---|---|---|
| 元器件高温存储 | ≥试样最大高度+200mm（通风空间） | IEC 60068-2-2 |
| 整机环境应力筛选 | ≥设备最大高度+300mm（操作空间） | MIL-STD-810G |
| 电池热失控测试 | 定制高度（通常≥1800mm） | UN |
数据来源：中国计量科学研究院2025年《环境试验设备校准规范》显示，高度超过1200mm的试验箱，温度均匀性衰减率达 ℃/米。
| 参数 | 定义 | 合格阈值（示例） |
|---|---|---|
| 温度范围 | 箱体可达到的最低/最高温度 | -70℃~+180℃（电子元件测试） |
| 控制精度 | 实际温度与设定值的偏差 | ± ℃（高精度型） |
| 容积 | 箱体内部可用空间（长×宽×高） | ≥试样总体积的 倍 |
| 采样率 | 温度数据采集频率 | ≥1次/秒（动态测试） |
| 型号 | 温度范围 | 湿度范围 | 容积（L） | 控制精度 | 符合标准 | 附加特性 | 价格（万元） |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC SH-241 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 800 | ± ℃ | IEC 60068, MIL-STD | 远程监控、数据追溯 | 28 |
| 重庆四达 THD-1000 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | 1000 | ±1℃ | IEC 60068 | 应急停机、防爆设计 | 15 |
| 德国Binder KBF 720 | -20℃~+180℃ | 10%~98%RH | 720 | ± ℃ | DIN 12880 | 独立控温区、触摸屏 | 35 |
| 验收项 | 合格标准 | 检测方法 |
|---|---|---|
| 温度均匀性 | ≤2℃（空载/满载） | 9点布点法（IEC 60068） |
| 温度波动度 | ≤± ℃（30分钟稳定后） | 数据记录仪连续采集 |
| 安全联锁 | 超温/断电自动切断加热 | 模拟故障触发测试 |
试样堆叠过密会引发局部过热（温差＞5℃），导致测试数据失真。例如，某半导体厂商因箱体高度不足，测试时底层芯片温度比顶层高8℃，引发批量失效。
核查是否具备CNAS认可实验室、ISO 17025校准资质，及同类项目案例（如汽车电子、航空航天领域）。
需重新校准并验证温度均匀性，同时检查加热管、制冷压缩机寿命（建议使用年限≤8年）。
因老化试验设备参数各异，为确保高效匹配需求，请您向我说明测试要求，我们将为您1对1定制技术方案
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颜总
